2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
- Författare
- Calif.) 2006 : (37th International Test Conference Santa Clara
- Språk
- Okänt

Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5090-9088-4 |