2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008

Författare
Japan) 2008 : (17th Asian Test Symposium Sapporo-shi
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
IEEE uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat
IEEE uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat 978-1-5090-8449-4