2010 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems : DFT 2010 : proceedings, 6-8 October 2010, Kyoto, Kyoto, Japan
- Författare
- IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Corporate Author
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |