2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS) : proceedings : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan / Asian Test Symposium
- Författare
- author. Asian Test Symposium
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5090-3809-1 |