2020 IEEE Workshop Celebrating the Scientific Value of Failure : FailFest 2020 : proceedings : virtual event, 25 October 2020 / IEEE

Författare
author Institute of Electrical and Electronics Engineers
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
IEEE uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat 978-1-7281-8556-9