Advanced Test Methods for SRAMs - Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
- Författare
- Alberto. Bosio
- (Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer US | 2010 | USA, Boston, MA | 978-1-4419-0938-1 |