Applied optical metrology II : 8-9 August 2017, San Diego, California, United States / Erik Novak, James D. Trolinger, editors sponsored by SPIE
- Författare
- Calif.) 2017 : (2nd International Conference on Applied Optical Metrology San Diego
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| SPIE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |