Atom Probe Microscopy
- Författare
- Baptiste. Gault
- (Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer New York, Imprint: Springer | 2012 | USA, New York, NY | XXIII, 396 sidor. 194 illus., 116 illus. in color. digital. | 978-1-4614-3436-8 |