Atom probe tomography - analysis at the atomic level
- Författare
- Michael Kenneth Miller
- (M.K. Miller)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer | cop. 2000 | USA, New York | xiv, 239 sidor. : ill. | 0-306-46415-2 |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer | cop. 2000 | USA, New York | xiv, 239 sidor. : ill. | 0-306-46415-2 |