Atom-probe field ion microscopy and its applications
- Författare
- Toshio Sakurai
- (Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Academic Press | cop. 1989 | USA, Boston | vii, 299 sidor. : ill., diagr., tab. | 0-12-014582-0 |