Atom-probe field-ion microscopy of electronic materials
- Författare
- Qiu-Hong Hu
- (Qiu-Hong Hu.)
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Chalmers tekniska högsk., Bibl:s reproservice | 1995 | Sverige, Göteborg, Göteborg | viii, 70 sidor., [1] pl.-bl. ill. (vissa i färg) 25 cm |