CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies: Process-aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)

Författare
Andrei Pavlov
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat 978-1-281-49223-4