Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silcon dioxide structures
- Författare
- Mats O. Andersson
- (Mats O. Andersson.)
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Chalmers tekniska högsk., Teknologtr. | 1991 | Sverige, Göteborg, Göteborg | [8], 45 sidor. 24 cm |