Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
- Författare
- D. Keith Bowen
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | 1980 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | 1980 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |