Characterization of process-related defects in silicon carbide by electron microscopy
- Författare
- Per O. Å. Persson
- (Per O.Å. Persson.)
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Univ., Unitr. | 2001 | Sverige, Linköping, Linköping | xiv, 34 sidor. ill. 24 cm |