Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits electronic resource - 2nd Edition
- Författare
- Manoj. Sachdev
- (Edited by Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | 2007 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat, Boston, MA | v.: digital | 978-0-387-46547-0 |