Electrical, structural and chemical characterization of Cu₃Ge thin films and contacts to silicon
- Författare
- James P. Doyle
- Språk
- Engelska
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
1996 | Sverige | 31 sidor. |
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
1996 | Sverige | 31 sidor. |