Film thickness measurements using optical interferometry for the characterization of EHL contacts
- Författare
- John Lord
- Språk
- Engelska
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
2001 | Sverige, Luleå | 21 sidor. |
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
2001 | Sverige, Luleå | 21 sidor. |