Film thickness measurements using optical interferometry for the characterization of EHL contacts
- Författare
- John Lord
- (John Lord.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2001 | Sverige, Luleå | 21 sidor. |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2001 | Sverige, Luleå | 21 sidor. |