Fundamentals of surface and thin film analysis
- Författare
- Leonard C. Feldman
- (L.C. Feldman, J.W. Mayer.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| North-Holland | cop. 1986 | USA, New York | xviii, 352 sidor. ill. |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| North-Holland | cop. 1986 | USA, New York | xviii, 352 sidor. ill. |