Gjutfels- och haverianalyser i svepelektronmikroskop (SEM) - exempel på vanliga defekter och brottytor
- Författare
- Jon Nilsson
- Språk
- Svenska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Svenska gjuterifören. | 1989 | Sverige, Jönköping | 40 sidor. |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Svenska gjuterifören. | 1989 | Sverige, Jönköping | 40 sidor. |