Hierarchical modeling for VLSI circuit testing / Debashis Bhattacharya and John P. Hayes
- Författare
- Debashis Bhattacharya
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-4613-1527-8 |