Hot-carrier effects in MOS devices electronic resource / Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada

Författare
Eiji Takeda
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat 978-0-08-092622-3