Hot-carrier effects in MOS devices
- Författare
- Eiji Takeda
- (Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Academic Press | cop. 1995 | USA, San Diego | xii, 312 sidor. ill. |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Academic Press | cop. 1995 | USA, San Diego | xii, 312 sidor. ill. |