Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
- Författare
- Leblebici
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer US | 1993 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | ||
| Kluwer Academic | cop. 1993 | USA, Boston | xvi,212 sidor. ill. |