Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits
- Författare
- Yusuf Leblebici
- (Yusuf Leblebici, Sung-Mo (Steve) Kang.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer Academic | cop. 1993 | USA, Boston | xvi,212 sidor. ill. |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer Academic | cop. 1993 | USA, Boston | xvi,212 sidor. ill. |