Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach

Författare
Tomi. Laurila
(Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti.)
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Springer London 2012 Storbritannien, London 978-1-4471-2470-2