Kelvin Probe Force Microscopy - From Single Charge Detection to Device Characterization
- Författare
- (Edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer International Publishing, Imprint: Springer | 2018 | Tyskland, Cham | XXIV, 521 sidor. 234 illus., 194 illus. in color. online resource. | 978-3-319-75687-5 |
| Springer Berlin Heidelberg | 2012 | Tyskland, Berlin, Heidelberg | XIV, 331p. 189 illus., 86 illus. in color. digital. | 978-3-642-22566-6 |
| Springer Berlin Heidelberg | 2012 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |