Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
- Författare
- Otwin. author. Breitenstein
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-3-662-08396-3 | ||
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |