Lock-in Thermography electronic resource : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp

Författare
Otwin. author. Breitenstein
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat