Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
- Författare
- Otwin. Breitenstein
- (Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer Berlin Heidelberg | 2010 | Tyskland, Berlin, Heidelberg | 978-3-642-02417-7 | |
| Springer Berlin Heidelberg | 2010 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |