Low-frequency noise characterization, evaluation and modeling of advanced Si- and SiGe-based CMOS transistors
- Författare
- Martin von Haartman
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2006 | Sverige, Stockholm | xx, 124 sidor. : diagr., tab. | ||
| KTH | 2006 | Sverige, Stockholm | xx, 124 |