Modelling and reliability assessment of microsystem interconnections
- Författare
- Yan Zhang
- (Yan Zhang.)
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Chalmers University of Technology | 2007 | Sverige, Göteborg | x, 33 sidor. ill. | 978-91-7385-017-9 |