Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the Traps in Field-Effect Transistors
- Författare
- Seongil Im
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2013 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | |||
| Springer Netherlands | 2013 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |