Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
- Författare
- Way Kuo
- Genre
- Electronic books
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | 1998 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |