Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications electronic resource / by Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
- Författare
- Jacopo. author. Franco
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |