Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition / by Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael
- Författare
- Joseph. author. Goldstein
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-4615-0215-9 |