Secondary ion mass spectrometry - a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis
- Författare
- Robert G. Wilson
- (R. G. Wilson, F. A. Stevie, C. W. Magee.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Wiley | cop. 1989 | USA, New York | 250 sidor. med var. pag. ill |