Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings

Författare
Dit-Yan. Yeung
(Edited by Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder.)
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Springer Berlin Heidelberg 2006 Tyskland, Berlin, Heidelberg 978-3-540-37241-7
Springer Berlin / Heidelberg Utgivningsland okänt / Ej specificerat v.: digital