Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings
- Författare
- Dit-Yan. Yeung
- (Edited by Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder.)
- Språk
- Engelska
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
Springer Berlin Heidelberg | 2006 | Tyskland, Berlin, Heidelberg | 978-3-540-37241-7 | |
Springer Berlin / Heidelberg | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | v.: digital |