TOF-SIMS - materials analysis by mass spectrometry
- Författare
- (Edited by John C. Vickerman and David Briggs.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| SurfaceSpectra, IM Publications | c2013 | England, Manchester, Chichester | vii, 732 sidor. ill. (some col.) 26 cm. | 978-1-906715-17-5 |