Temperature aware and defect-probability driven test scheduling for system-on-chip
- Författare
- Zhiyuan He
- (Zhiyuan He.)
- Genre
- theses
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Department of Computer and Information Science, Linköpings universitet | 2010 | Sverige, Linköping | x, 166 sidor illustrationer | 978-91-7393-378-0 |
| Linköping University Electronic Press | 2010 | Sverige, Linköping | 1 onlineresurs (166 sidor) illustrationer |