Testability concepts for digital ICs - the macro test approach
- Författare
- F. P. M. Beenker
- (F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer | cop. 1995 | Nederländerna, Dordrecht | ix, 212 sidor. ill. |