Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
- Författare
- (Edited by Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty.)
- Genre
- Bibliografi, Electronic books.
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| CRC Press | 2014 | USA, Boca Raton | 1 online resource text file, PDF | 978-1-4398-2942-4 |
| CRC Press | 2013 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |