Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
- Författare
- Sandeep K. Goel
- Genre
- Electronic books
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2014 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | |||
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-306-08563-2 |