The influence of the operating mode of IC-devices on their lifetime - a reliability test of plastic encapsulated CMOS-circuits in a humid environment
- Författare
- Per Johnsson
- (Per Johnsson, Claes von Schéele.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 1989 | Sverige | 25 sidor. |