Thermal testing of integrated circuits
- Författare
- Josep Altet
- (Josep Altet and Antonio Rubio.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer Academic Publishers | c2002 | Massachusetts, Boston | xiv, 204 sidor. ill. 25 cm. |