Thin film analysis by X-ray scattering electronic resource / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
- Författare
- Mario. Birkholz
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Wiley-VCH | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |