Thin film analysis by X-ray scattering
- Författare
- Mario. Birkholz
- (Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel.)
- Genre
- Okänt
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Wiley-VCH | 2006 | Tyskland, Weinheim | XXII, 356 S. Ill., graph. Darst. | 978-3-527-31052-4 |
| Wiley-VCH | c2006 | Tyskland, Weinheim | xxii, 356 pages illustrations 25 cm. | 978-3-527-60759-4 |