VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008

Författare
Calif.) 2008 : (26th IEEE VLSI Test Symposium San Diego
Språk
Okänt
Förlag År Ort Om boken ISBN
IEEE uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat
IEEE uuuu-uuuu Utgivningsland okänt / Ej specificerat 978-1-5090-8176-9