Value analysis tear-down electronic resource : a new process for product development and innovation / Yoshihiko Sato and J. Jerry Kaufman
- Författare
- Yoshihiko. Sato
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |