X-ray optics and X-ray microanalysis : third International Symposium, Stanford University, Stanford, California, August, 1962 / edited by H.H. Pattee, V.E. Cosslett, Arne Engström
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |