Sök böcker

Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!

Sökning efter: Cher Ming. Tan 16 träffar

Titel Författare År Språk
1 Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry 2017 Engelska
2 Electromigration in Ulsi Interconnections Cher Ming. Tan 2010 Engelska
3 Electromigration Modeling at Circuit Layout Level Cher Ming. Tan 2013 Engelska
4 Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections Cher Ming. Tan 2011 Engelska
5 Reliability and failure analysis of high-power led packaging / Cher Ming Tan, Preetpal Singh Cher Ming Tan uuuu-uuuu Okänt
6 Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections electronic resource / by Cher Ming Tan, Wei Li, Zhenghao Gan, Yuejin Hou Cher Ming. author. Tan uuuu-uuuu Okänt
7-8 Graphene and VLSI Interconnects (flera utgåvor) Cher Ming Tan uuuu-uuuu Okänt
9 Reliability Analysis of Electrotechnical Devices Cher Ming Tan 2022 Engelska
10 Electromigration Modeling at Circuit Layout Level electronic resource / by Cher Ming Tan, Feifei He Cher Ming. author. Tan uuuu-uuuu Okänt
11 Electromigration in ULSI interconnections electronic resource / Cher Ming Tan Cher Ming Tan uuuu-uuuu Okänt
12-13 Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging (flera utgåvor) Cher Ming. Tan 2022 Engelska
14 Electromigration in ULSI Interconnections (International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology) Cher Ming Tan uuuu-uuuu Okänt
15 Electromigration Modeling at Circuit Layout Level Cher Ming Tan 2013 Okänt
16 Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (Springer Series in Reliability Engineering) Cher Ming Tan 2011 Okänt

1

Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.